CT440/440-PDL - 無源元器件測試儀
緊湊的測試儀,用于快速、準確地鑒定無源光元器件
主要優點
快速測量變化函數
波長范圍為1240-1680 nm(SMF型號)
PM和PDL選件
波長分辨率為1-250 pm
波長精度為±5 pm
單次掃描的動態范圍為65 dB
多可結合4個可調諧激光器(SMF型號)
配備四個內部檢測器,可通過同步進行擴展
EXFO s緊湊型CT440讓您快速準確地測試無源光學組件(如MUX/DEMUX,濾波器,分配器)和模塊(ROADM, WSS)。
更重要的是,該裝置覆蓋了從1240到1680 nm的光譜范圍,允許在整個電信波段進行測量。
通過PDL選項,CT440可以同時測量插入損耗和偏振相關損耗。