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偏振相關損耗測試儀

偏振相關損耗測試儀

簡要描述:PDL測試儀能在30 ms內,同時測量待測器件的偏振相關損耗(PDL),插入損耗(IL)和光功率。使用擾偏法測量的PDL具有很高的不確定性。與這種方法不同,PolaCHEXTM有條理地搜索最大和最小透過率,確保了具有較高和較低PDL值的器件在任何時刻的測量精度,可獲得精確的PDL值。

產品型號:

所屬分類:偏振分析儀

更新時間:2024-12-16

詳細說明:

PDL測試儀能在30 ms內,同時測量待測器件的偏振相關損耗(PDL,插入損耗(IL和光功率。使用擾偏法測量的PDL具有很高的不確定性。與這種方法不同,PolaCHEXTM有條理地搜索透過率,確保了具有較高和較低PDL值的器件在任何時刻的測量精度,可獲得精確的PDL值。PolaCHEX覆蓋了較寬的波長范圍:1260~1650 nm,無需波長校準,比基于Mueller矩陣方法測得的PDL值更準確。它帶有USB、以太網、GPIBRS-232接口,用于電腦控制。能快速、精確測量與波長相關的無源器件的特性,尤其適用于制造或實驗室中DWDM、光纖傳感元件。與PDL-101相比,PDL-201具有較快的測量速度,較大的測量動態范圍,更明亮的顯示屏,以及用于集成的附加模擬輸出端口。

主要技術參數:

 

波長:

1260-1620 nm

分辨率

0.01 dB

PDL 精確度1,2,3

±(0.01 + 5% of PDL) (dB)

PDL 重復性1

±(0.005 + 2% of PDL) (dB)

PDL 動態范圍4

0 to 45 dB

IL 精確度1,2,3

±(0.01 + 5% of IL) (dB)

IL 重復性1

±(0.005 dB + 2% of IL) (dB)

IL 動態范圍4

0 to 45 dB

輸入光功率

-40 to 6 dBm

光功率精度

±0.25 dB

波長校準( 功率測量)

1260-1360 nm  1440-1620 nm

測量速度

30 ms/ (input >-30 dBm)

操作溫度

0 to 50

存儲溫度

-20 to 70

光連接器類型

光源、 DUT 輸入:APC

DUT輸出

自由空間適配器

模擬輸出

0-4V PDL監控電壓 (用戶自定義PDL范圍)

(0-3.5V PDL線性變化, 4V 指示低功率)

電源供應

100240VAC, 5060Hz

通訊接口

USB, Ethernet, RS-232, and GPIB

尺寸

2U, 19" 半架寬度 3.5" (H) × 8.5" (W) × 14" (L)

備注:數據在23±5°C溫度下,10組平均值所得。精確的偏振相關損耗測試還取決于測試設置。輸入功率 0 dBm,用戶自定義功率計測量模式。




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