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晶體定向儀

晶體定向儀

簡要描述:標準背向反射X射線CCD
有效感光面積:155(h)x105(v)mm
最小輸入像元尺寸:57μmx57μm
像素分辨率:2774x1843
犧牲分辨率條件下,可以增加像元靈敏度

產品型號: LAUESYS

所屬分類:晶體定向儀

更新時間:2024-12-16

詳細說明:

1.標準背向反射X射線CCD

  •  有效感光面積:155hx105vmm

  •  最小輸入像元尺寸:57μmx57μm

  • 像素分辨率:2774x1843

  • 犧牲分辨率條件下,可以增加像元靈敏度

 

2.高亮度X射線光源/發生器

  •   原始光束直接低至0.3-0.4mm,在額外的準直器條件下可以降低到0.3mm以下。

  •  搭配準直器條件下,最小X射線通量:>3x108光子

  •  鎢靶密封X射線管

  • 平均能量譜:5-50 keV軔致輻射

  •  X射線發生器:提供手動控制kV級高壓以及電流設置。

 

3.數據采集/勞厄圖像處理系統

提供一套預配置數據采集電腦,通過自動掃描功能掃描藍寶石樣品,可以進行實時圖像采集/顯示,積分時間可低至幾秒鐘。圖像通過千兆以太網接口傳輸到電腦,在電腦上顯示并以TIFF/BMP/JPEG格式儲存,采集軟件允許可編程序列

        預裝數據采集系統軟件裝載在Windows 10 / 64位系統上,操作系統提供用戶控制如下:

  •   曝光時間從1毫秒到幾分鐘

  •   像素合成:1x1~8x8

  • 快速14&18位高精度采集模式,用戶可選噪聲質量等級

  •  自動背景噪聲減法模式

 

4.勞厄圖像信息管理系統

  •  定向分析軟件在參考樣本獲取的預定義參考圖像上顯示樣本晶向。標準系統通過非特征衍射斑點得到的精度<0.3度,通過特征衍射斑點可得到更高精度,手動按步驟進行對齊,可達+/-0.04度。

  •  輸入BMP/JPEG格式,通過已知晶體結構和樣品距離可獲得小于0.3度定向精度,運用特征線可獲得+/-0.04度定向精度。

  • 從樣品掃描定位自動獲取定位數據(三旋轉軸),三斜晶系,單斜晶系,斜方晶系,四方晶系,三方晶系,六方晶系,立方晶系

  • 通常在5秒內從隨機單晶硅晶向找到解決方案。

 

5.X射線專用機箱

  •   裝載在1500mm(長)x750mm(寬)x850mm(高)被動隔離臺上,配有緊急停止按鈕

  •    電纜夾持器

  •   電磁鎖

  •   信號控制高電壓開關和互鎖狀態

  •  指示燈,抽風機機用于光源和勞厄相機的制冷。

  •   用于X射線源,X射線勞厄相機固定的安裝夾具、托架。手動裝配到600毫米(長)×600毫米(寬)面包板上。

  •   具有定位十字準線的樣品觀察相機:允許精細樣本定位精度低至0.1mm

  •   X射線閃爍體允許光束強度/位置檢查

6. 三軸電動線性位移臺

  •   垂直于光束軸線的定位:X+/-150mmY+/-150mm水平

  •  沿光束軸線定位:+/-20mm垂直

  •  用于將測角儀組件安裝到剛性面包板上的夾緊底座,與光源和勞厄探測器預對準,與所有軸連接的限位開關橋連接器。

  •  允許自動掃描序列的宏命令

 

7. 三軸電動測角儀

  •  頂部旋轉高度設置為20mm高的傾斜臺:旋轉幅度+/7度和+/-10度垂直于光束軸,安裝在平行于光束軸線的360度旋轉底座上。所有軸的精度為+/-0.06度,限位開關連接器,用戶提供晶體支架。

  •   用于將測角組件安裝到剛性面包板上的夾緊底座,與源和勞厄相機預對準的平移臺。

  •   從電動測角儀到手動測角儀/晶體切割工具的樣品適配器板


 

8.系統預裝配置

  •   包括硅晶體(或藍寶石)樣品參考數據。在曝光時間1秒內,4x4像素合并下,快速對準到0.3度定位精度下獲得典型001圖案。在10秒內,全分辨率條件下獲得<0.1度定位精度。




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